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太空系列探针-射频探针

新特点

   特殊的针尖设计技术，超长的使用寿命，适用于量产测试

   可满足 -60℃~ 200℃宽温区测试

   针尖间距可选范围：75 μm-1250 μm

   针尖材质：镍

   Pad不平整度的兼容性可达25 μm，适用于不平整界面的测试

   极低的接触电阻和插入损耗

产品优势

   太空系列射频探针是射频及微波器件的晶片级测试的必备神器

   极低接触电阻和优越的阻抗控制

   在宽温区测试中能保持信号的完整性和稳定性，数据重复性极高

   太空系列射频探针极速交付、国内维修、无需等待

太空系列探针-射频探针 电性能参数

*    测试数据及规格取决于个别的工艺条件，探针参数不同数据会有所差异，并非所有的规格都可同时有效。推荐的标准的探针间距75 μm - 250 μm。

**   探针射频功率> 30 W @ 2.4 GHz， > 10 W @ 18 GHz， > 7.5 W @ 26.5 GHz。

***   在Al电极上的接触电阻。

太空系列探针-射频探针 机械性能参数

*   典型探针间距75 μm-1250 μm只适用于40 GHz / 50 GHz / 67 GHz探针，110 GHz及以上典型探针间距范围为75 μm-150 μm。

提供到3000 μm宽间距射频探针定制。

**   适用于Al电极。

太空系列探针-射频探针 外形尺寸

* 探针外形尺寸单位：mm