单信号 40 GHz 射频探针 ● 太空系列射频探针是射频及微波器件的晶片级测试的必备神器 ● 极低接触电阻和优越的阻抗控制 ● 在宽温区测试中能保持信号的完整性和稳定性,数据重复性极高 ● 太空系列射频探针极速交付、国内维修、无需等待
特殊的针尖设计技术,超长的使用寿命 适用于量产测试 Pad 不平整度的兼容性可达 25 μm 适用于不平整界面的测试 极低的接触电阻和插入损耗 可满足 -60℃~ 200℃ 宽温区测试 固定孔位 针体 探针针尖 线缆接口 40 GHz 单信号射频探针
** 测试数据及规格取决于个别的工艺条件,探针参数不同数据会有所差异,并非所有的规格都可同时有效 ** 推荐的标准探针间距 75 μm ~ 250 μm ** 初次购买和使用我司射频探针和校准片,建议购买现场安装和校准培训服务 ** 如果您在测试过程中对硬件搭建、线缆连接、仪表设置、设备操作、系统校准、测试流程及数据分析等存在疑问, 您可以根据 Eoulu 官方网站的“服务中心”,采购硬件和软件的现场测试陪同服务,或采购 Eoulu future 系列软件 简化测试操作,轻松快速地获取测试结果 ****** 在 Au 电极上的接触电阻 ****** 功率测试环境(Watts CW @ 20°C) ****** 大功率款射频探针为定制产品,请联系 Eoulu 咨询详情 ***** 典型探针间距 50 μm ~ 1250 μm 只适用于 40 GHz / 50 GHz / 67 GHz 探针,110 GHz 及以上典型探针间距范围为 50 μm ~ 150 μm ****** 提供到 3000 μm 宽间距射频探针定制 ****** 适用于常温下 Al 电极的测试 ****** 射频探针典型寿命实验已在 Eoulu 实验室验证,详情请参考 Eoulu 官网射频探针寿命验证视频和《 Eoulu 射频探针寿命验证报告》 ******* 探针外形尺寸单位:mm 产品参数如有变更,恕不另行通知。所有产品图片都以实物为准,苏州伊欧陆系统集成有限公司拥有内容解释权。
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