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E5071C
产品型号: E5071C
测试类型: 可与仪表组合,进行半导体器件测试
操作方式: 全自动
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产品详情

UF200是目前先进的8英寸晶圆测试设备,采用OTS光学自动对准,提供优异的移动精度,操作方便灵活、提供inkless map、multi site测试、150度高温测试等功能,是8英寸晶圆测试的最佳选择。     UF200探针台的主要优点是:     1、增加生产量和生产率;     2、减少的应用程序的要求或测试时间短的大量测试成本;     3、40%-50%增进系统的吞吐量和降低生产成本。    应用范围:         8英寸全自动集成电路测试,用于5-8英寸晶圆测试。    主要技术指标:           UF200是目前国际上先进的8英寸全自动探针台。主要指标:误差-2~2um,测试晶圆5-8英寸。

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